儀器功能型號對比
型號 | 正反接法 | CVT自繳法 | C1/C2同測 | 外接標(biāo)準(zhǔn) | 外接高壓 | CVT變比測試 | 正反同測 | LCR測試 | 多通道 | 絕緣電阻測試 | USB電腦控制 | U盤存儲 | 英文版 | 說明書 |
NEPRI-6240 | 有 | 有 | ||||||||||||
NEPRI-6241 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | ||||||
NEPRI-6242 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | ||
NEPRI-6243 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | ||
NEPRI-6244 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 |
工作原理
在交流電壓作用下,電介質(zhì)要消耗部分電能,這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時,電介質(zhì)中的電壓和電流間成在相角差ψ,ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角,δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路(Cn)和一被試回路(Cx),如圖2—1所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測量線路組成,被試回路由被試品和測量線路組成。測量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過測量電路分別測得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差,再由數(shù)字信號處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時采集方法,通過矢量運(yùn)算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施,保證在外電場干擾下準(zhǔn)確測量。
圖 2—1 測量原理圖
儀器主要具有如下特點(diǎn)
l 超大液晶中文顯示
操作簡單,儀器配備了高端的全觸摸液晶顯示屏,超大全觸摸操作界面,每過程都非常清晰明了,操作人員不需要額外的專業(yè)培訓(xùn)就能使用。輕輕點(diǎn)擊一下就能完成整個過程的測量,是目前非常理想的智能型介損測量設(shè)備。
l 海量存儲數(shù)據(jù)
儀器內(nèi)部配備有日歷芯片和大容量存儲器,保存數(shù)據(jù)200組,能將檢測結(jié)果按時間順序保存,隨時可以查看歷史記錄,并可以打印輸出。
l 科學(xué)先進(jìn)的數(shù)據(jù)管理
儀器數(shù)據(jù)可以通過U盤導(dǎo)出,可在任意一臺PC機(jī)查看和管理數(shù)據(jù)。
l 多種測試模式
儀器能夠分別使用內(nèi)高壓、外高壓、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)、外標(biāo)準(zhǔn)、正接法、反接法、自激法等多種方式測試;在外標(biāo)準(zhǔn)外高壓情況下可以做高電壓(大于10kV)介質(zhì)損耗。
l CVT測試一步到位
該儀器還可以測試全密封的CVT(電容式電壓互感器)C1、C2的介損和電容量,實(shí)現(xiàn)了C1、C2的同時測試。該儀器還可以測試CVT變比和電壓角差。
l 不拆高壓引線測量CVT
儀器可在不拆除CVT高壓引線的情況下正確測量CVT的介質(zhì)損耗值和電容值。
l CVT反接屏蔽法測量C0
儀器可采用反接屏蔽法測量CVT上端C0的介質(zhì)損耗值和電容值。
l 高速采樣信號
儀器內(nèi)部的逆變器和采樣電路全部由數(shù)字化控制,輸出電壓連續(xù)可調(diào)。
l LCR全自動測量
全自動電感、電容、電阻測量,角度顯示。
l 四通道同時測試
正接法測試接線時,四個被試品電容總值不大于單個被試品能測試的**電容值,是可以同時測試四個被試品的介質(zhì)損耗值。
l 多重保護(hù)安全可靠
儀器具備輸入電壓波動、高壓電流、輸出短路、電源故障、過壓、過流、溫度等多重保護(hù)措施,保證了儀器安全、可靠。儀器還具備設(shè)置接地檢測功能,確保不接地設(shè)備不允許操作啟動測試。